Ementa:
Estrutura Cristalina. Simetria de Cristais. Produção, Propriedades e Detecção dos Raios-X. Difração de Raios-X. Métodos Experimentais de Difração de Raios-X. Caracterização de Materiais por Difração de Raios-X. Métodos de refinamento de estruturas cristalinas.
Bibliografia:
CULLITY, B.D.; STOCK, R.S. Elements of X-Ray Diffraction. 3ªEd. Pearson, 2001.
PECHARSKY, V.K.; ZAVALIJ, P.Y. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. Springer, 2005.
CAHN, R.W.; HAASEN, P.; KRAMER, E.J. Materials Science and Technology, Characterization of materials. Vol.2a/2b. Wiley – VCH, 2005.
Ano de Catálogo: 2022
Créditos: 4
Número mínimo de alunos: 5
Número de alunos matriculados: 1
Idioma de oferecimento: Português
Tipo Oferecimento: Regular
Local Oferecimento:
Horários/Salas:
Docentes:
Reservas:
Não possui reservas.| Hora | Segunda | Terça | Quarta | Quinta | Sexta | Sábado |
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