Unicamp Diretoria Acadêmica

PO700 - Cristalografia e Difração de Raios-X - 2S/2020 Imprimir

Pós-Graduação

Informações da disciplina

Ementa:

Estrutura Cristalina. Simetria de Cristais. Produção, Propriedades e Detecção dos Raios-X. Difração de Raios-X. Métodos Experimentais de Difração de Raios-X. Caracterização de Materiais por Difração de Raios-X. Métodos de refinamento de estruturas cristalinas.

Bibliografia:

CULLITY, B.D.; STOCK, R.S. Elements of X-Ray Diffraction. 3ªEd. Pearson, 2001.

PECHARSKY, V.K.; ZAVALIJ, P.Y. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. Springer, 2005.

CAHN, R.W.; HAASEN, P.; KRAMER, E.J. Materials Science and Technology, Characterization of materials. Vol.2a/2b. Wiley – VCH, 2005.

Ano de Catálogo: 2020

Créditos: 4

Turma: A Vagas: 30

Número de alunos matriculados: 7

Idioma de oferecimento: Português

Tipo Oferecimento: Regular

Local Oferecimento:

Horários/Salas:

  • Terça 14:00 - 18:00 UL90

Docentes:

  • Ricardo Floriano

Reservas:

Não possui reservas.

Horários

Hora Segunda Terça Quarta Quinta Sexta Sábado
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00 A - UL90
15:00 A - UL90
16:00 A - UL90
17:00 A - UL90
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00

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